Montes, R.Urena, C.Lastra, M.Garcia, R.Luis Matey and Juan Carlos Torres2014-01-262014-01-262008978-3-905673-69-2https://doi.org/10.2312/LocalChapterEvents/CEIG/CEIG08/199-208Este trabajo presenta un algoritmo para el muestreo eficiente y exacto de BRDF genéricas, esto es, apto para cualquiera de los modelos de BRDFs analíticos o adquiridos de la literatura de informática gráfica. Nuestro objetivo principal consiste en proporcionar una función de probabilidad utilizable en algoritmos de iluminación global basados en métodos de Monte-Carlo, que permita un muestreo por importancias proporcional al producto de la función BRDF y un termino coseno. Mediante la subdivisión adaptativa de la BRDF en el disco unidad, obtenemos una estructura jerárquica o quadtree que nos permite aplicar un muestreo por rechazo optimizado en los nodos. El número medio de intentos en el muestreo está acotado y es parámetro de la estructura utilizada. El método se aplica al muestreo de cualquier modelo de BRDF sin necesidad de guía por parte del usuarioCategories and Subject Descriptors (according to ACM CCS): I.3.7 [Computer Graphics]: Three-Dimensional Graphics and Realism. Color, shading, shadowing, and textureUn Algoritmo de Muestreo exacto para BRDFs Arbitrarias